多通道電流矩陣模塊 電阻率/漏電流測試

產(chǎn)品介紹：

 多通道電流切換矩陣模塊是一種模塊化、高密度的電流控制解決方案，支持獨(dú)立控制多路電流通道（典型8~128通道），可同時輸出/吸入精確可調(diào)的直流電流。通過優(yōu)良的矩陣開關(guān)架構(gòu)，用戶可自由配置各通道的電流值（pA至mA 級）、工作模式（恒流/脈沖/掃描）及通斷時序，適用于并行化測試、自動化產(chǎn)線及復(fù)雜實(shí)驗(yàn)場景。 高的精度多通道電流切換矩陣模塊是專為要求苛刻的微弱電流（低至皮安級）和中等電流（高達(dá)100mA）信號路徑切換而設(shè)計的核心組件。它本身不進(jìn)行電流測量，而是為您高的精度靜電計（如 Keithley 6517B, 6430, 6485/6487）或源測量單元提供可靠、低噪聲、低熱電動勢（EMF）的通道擴(kuò)展能力，將單臺昂貴的高的精度儀表擴(kuò)展為高效的多通道自動化測試系統(tǒng)。無論是研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的材料特性分析，還是生產(chǎn)線上半導(dǎo)體器件的批量測試，都是提升測試效率、保證數(shù)據(jù)一致性的理想選擇。

多通道電流矩陣模塊 電阻率/漏電流測試產(chǎn)品特點(diǎn)：

01高密度集成：單機(jī)箱支持較高128通道，節(jié)省90%設(shè)備空間，降低機(jī)柜與線纜成本。

02毫秒級切換;高速矩陣開關(guān)（20ms切換時間）支持動態(tài)負(fù)載切換與高速掃描測試。

03模塊化擴(kuò)展：支持熱插拔通道卡，可按需擴(kuò)展通道數(shù)（較小8通道起，以8為增量擴(kuò)展）。

04信號完整性：低電容設(shè)計，支持快速建立穩(wěn)定的測量信號，減少測試時間。

05 寬電流范圍：精心設(shè)計的信號路徑確保設(shè)備在 ±1 pA 至 ±100 mA 的寬動態(tài)范圍內(nèi)切換信號時，引入的干擾和誤差極小，滿足從超高阻值材料漏電測試到一般電子元件特性分析的需求。

  06 精度與低噪聲：超低熱電動勢 (< 1 μV) 設(shè)計，消除熱電效應(yīng)對微弱直流測量的影響。極低漏電流路徑 (< 1 fA @ 典型值)，確保pA 級微弱電流測量的準(zhǔn)確性。 優(yōu)化的屏蔽與布線設(shè)計，較大限度降低串?dāng)_和外部噪聲干擾。

應(yīng)用領(lǐng)域

l 高阻材料與元件測試： 絕緣材料、陶瓷、薄膜、高阻值電阻的電阻率/漏電流自動化測量。

l 半導(dǎo)體器件特性分析： 晶體管/二極管漏電流 (Ioff, Gate Leakage), 電容漏電，晶圓級可靠性測試 (WLR)。 傳感器測試與標(biāo)定： 光電二極管暗電流、電化學(xué)/生物傳感器電流、輻射探測器電流。

l 電池與儲能測試： 電池自放電電流監(jiān)測、模組/Pack絕緣電阻測試。

l 靜電與ESD研究： 防靜電材料電阻率測量、靜電荷衰減測試。 光電與光伏器件測試： 太陽能電池暗電流、LED/OLED微弱漏電流、探測器陣列測試。

l 環(huán)境監(jiān)測與科學(xué)儀器： 電離室電流采集、多通道微弱信號切換。 多器件并行參數(shù)測試： 配合源表進(jìn)行批量器件的I-V掃描、導(dǎo)通電阻測量等。

應(yīng)用案例

可以構(gòu)建出極其強(qiáng)大的高通道數(shù)、高的精度微弱電流/高阻自動化測試系統(tǒng)。

• 將單臺昂貴的高的精度靜電計擴(kuò)展為多通道測試系統(tǒng)，顯著提高設(shè)備利用率和測試效率。

• 實(shí)現(xiàn)無人值守的長時間、多樣品連續(xù)測試，保證數(shù)據(jù)一致性和可比性。

• 精確捕捉 pA 級甚至 fA 級的微弱電流變化，滿較苛刻的測試要求。

主要技術(shù)指標(biāo)

l 產(chǎn)品型號：HC-PAX

l 通道數(shù)量:基礎(chǔ)單元8通道，單機(jī)箱128通道，可拓展8機(jī)箱1024通道

l 電流范圍:±1pA ~ ±100mA

l 電流接口：分口是8芯雷莫，總口是BNC

l 通信接口:RS485

l 外形尺寸:長×寬×高 44cm×13.5cm×30cm（不含所有凸起）

l 供電要求:100-240V AC, 50/60Hz，單機(jī)箱較大60W

l 工作溫度10℃ ~ +50℃

l 工作濕度濕度40%~60% RH 無冷凝